當(dāng)前大家對(duì)于國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)智力測(cè)試都是頗為感興趣的，大家都想要了解一下國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)智力測(cè)試，那么小美也是在網(wǎng)絡(luò)上收集了一些關(guān)于國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)智力測(cè)試的一些信息來(lái)分享給大家，希望能夠幫到大家哦。

1、國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)智力測(cè)試是是一種數(shù)量化的、對(duì)智力的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量。

2、有兩種個(gè)體施測(cè)至今還在廣泛應(yīng)用：斯坦福-比奈(Stanford-Binet)測(cè)驗(yàn)和韋克斯勒(Wechsler)測(cè)驗(yàn)。

3、斯坦福-比奈量表智商分布：140以上為非常優(yōu)秀(天才)；120-139為優(yōu)秀；110-119為中上、聰慧；90-109為中等；80-89為中下；70-79為臨界智能不足；69以下為智力缺陷。

本文到此結(jié)束，希望對(duì)大家有所幫助。

版權(quán)說(shuō)明：本文由用戶(hù)上傳，如有侵權(quán)請(qǐng)聯(lián)系刪除！

標(biāo)簽：